特性：

• 支持USB 3.1 10Gbps PHY电气性能测试，包括

n  TD1.1 LFPS Tx测试；

n  TD1.2 LFPS Rx测试；

n  TD1.4 Tx眼图测试；

n  TD1.5 Tx EQ测试；

n  TD1.7 Tx SSC测试；

n  TD1.10 Rx抖动容限测试；

• 完整版包括

n  Host测试夹具1个；

n  Device测试夹具1个；

n  Captive Device测试夹具1个；

n  Host Breakout夹具1个；

n  Device Breakout夹具1个；

n  CLB夹具3个（5.6/7.1/8.1 inch)；

n  Mock Host夹具1个；

n  Mock Device夹具1个；

• 支持Host，Device和Captive Device等设备测试；

• 微带传输线设计，90+/-9欧姆阻抗；

• 测试接口使用SMA同轴接口；

• Device和Captive Device夹具使用DC-005接口供电并预留VBUS测试点；

应用领域：

• USB 3.1 Host和Device 10Gbps电气性能测试；

维保：

• 夹具非人为损坏质保一年；
  

• IO连接器及同轴连接器属易耗品，不在维保范围；