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USB 3.0 A口测试夹具
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USB 3.0 A口测试夹具

USB 3.0 A口测试夹具,支持superspeed 5Gbps电气性能测试

  • 商品型号:HLK-USB30-AET
  • 商品说明:套装
  • 联系电邮:sales@hilinkelec.com

特性:

  • 支持USB 3.0 5Gbps PHY电气性能测试,包括:

  • n  TD1.1 LFPS Tx测试;

    n  TD1.2 LFPS Rx测试;

    n  TD1.3 Tx眼图测试;

    n  TD1.4 Tx SSC测试;

    n  TD1.5 Rx抖动容限测试;

  • 完整版包括:

  • n  Host夹具1个;

    n  Device夹具1个;

    n  Host 5 inch ISI夹具1个;

    n  Device 11 inch ISI夹具1个;

    n  Device CAL夹具1个;

    n  Host Breakout夹具1个;

    n  Device Breakout夹具1个;

    n  测试测试线缆2根;

    n  5V2A电源1个;

  • 微带传输线设计,90+/-9欧姆阻抗;

  • 保留USB 2.0接口;

  • Device夹具使用DC-005接口供电并预留VBUS测试点;


应用领域:

  • USB 3.0 Host和Device 5Gbps电气性能测试;


维保:

  • 夹具非人为损坏质保一年;

  • IO连接器及同轴连接器属易耗品,不在维保范围;